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J-GLOBAL ID：200903094293454981

質量分析計

Inventor： 平林 集 ,  坂入 実 ,  高田 安章 ,  小泉 英明
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995011239
Publication number (International publication number)：1996201369
Application date： Jan. 27, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】混合試料溶液を確実に分離分析できる高感度質量分析計を提供する。【構成】試料分離部1で分離された試料は分離成分検出部2で検出された後、イオン化部3において気体状イオンに変換され、イオン蓄積部4でイオン蓄積され、質量分析部5において質量分析され、イオン検出部6で検出される。溶液検出部2の出力に基づき計算部7ではイオン蓄積部4または質量分析部5に対する制御信号が出される。【効果】イオン蓄積部へのイオン導入とイオン蓄積部または質量分析部の制御とを同期させることにより、イオンの高感度分析が確実に行われる。

Claim (excerpt)：

混合試料を分離する試料分離部と,分離された試料を検出する分離成分検出部と,前記試料を気体状イオンに変換するイオン化部と,イオン蓄積が可能なイオン蓄積部と,イオンを質量分離する質量分析部と,質量分離されたイオンを検出するイオン検出部と,前記イオン検出部の出力が導入されるデータ処理部と,前記分離成分検出部からの出力が導入される計算部とを有する質量分析計において、前記計算部からの出力に基づき、前記イオン蓄積部におけるイオン蓄積の開始や終了および前記質量分析部における質量分析の実行が行われることを特徴とする質量分析計。

IPC (4)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/447 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/26

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-097350
  
• 特開平2-176459
  
• 特開昭64-043963