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J-GLOBAL ID:200903094330210001

凹凸表面をもつ微細な合金粒子粉末およびその製造法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 和田 憲治 ,  小松 高 ,  萩原 康司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004227733
Publication number (International publication number):2006045614
Application date: Aug. 04, 2004
Publication date: Feb. 16, 2006
Summary:
【課題】触媒金属に適した表面凹凸の大きな白金族合金の微粒子粒子粉末を得る。【解決手段】式〔TXM1-X〕、ただし式中、TはFe、CoまたはNiの1種または2種以上、MはPt、PdまたはRuの1種または2種以上、Xは0.1〜0.9の範囲の数値を表す、の組成比でTとMを含有する合金の粉体であって、TEM観察により測定される平均粒径(DTEM) が50nm以下、X線結晶粒径(Dx)が10nm以下、TEM観察により粒子の表面に複数の角が観測され且つ角と角の間に窪みが観測される、凹凸表面をもつ微細な合金粒子粉末である。この合金粒子粉末は、結晶構造が面心立方晶(fcc構造)であり、単結晶化度(DTEM) /(Dx)が1.50以上である。また動的光散乱法による平均粒径が50nm以下である。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
式〔TXM1-X〕、ただし式中、 TはFe、CoまたはNiの1種または2種以上、 MはPt、PdまたはRuの1種または2種以上、 Xは0.1〜0.9の範囲の数値を表す、 の組成比でTとMを含有する合金の粉体であって、 TEM観察により測定される平均粒径(DTEM) が50nm以下、 TEM観察により粒子の表面に複数の角が観測され且つ角と角の間に窪みが観測される、 凹凸表面をもつ微細な合金粒子粉末。
IPC (7):
B22F 1/00 ,  B22F 9/24 ,  C22C 5/04 ,  C22C 19/03 ,  C22C 19/07 ,  C22C 38/00 ,  B01J 23/745
FI (7):
B22F1/00 K ,  B22F9/24 E ,  C22C5/04 ,  C22C19/03 Z ,  C22C19/07 Z ,  C22C38/00 ,  B01J23/74 301A
F-Term (67):
4G069AA03 ,  4G069BA08A ,  4G069BB02A ,  4G069BB02B ,  4G069BC66A ,  4G069BC66B ,  4G069BC67A ,  4G069BC68A ,  4G069BC70A ,  4G069BC72A ,  4G069BC75A ,  4G069BC75B ,  4G069CA03 ,  4G069CC32 ,  4G069EB18X ,  4G069EB18Y ,  4G069EC22X ,  4G069EC22Y ,  4G169AA03 ,  4G169BA08A ,  4G169BB02A ,  4G169BB02B ,  4G169BC66A ,  4G169BC66B ,  4G169BC67A ,  4G169BC68A ,  4G169BC70A ,  4G169BC72A ,  4G169BC75A ,  4G169BC75B ,  4G169CA03 ,  4G169CC32 ,  4G169EB18X ,  4G169EB18Y ,  4G169EC22X ,  4G169EC22Y ,  4K017AA01 ,  4K017BA03 ,  4K017BA06 ,  4K017BB02 ,  4K017BB18 ,  4K017CA08 ,  4K017CA09 ,  4K017DA09 ,  4K017EH13 ,  4K017FB03 ,  4K017FB07 ,  4K018AA02 ,  4K018AA08 ,  4K018AA10 ,  4K018BA01 ,  4K018BA20 ,  4K018BB01 ,  4K018BB04 ,  4K018BC09 ,  4K018BD10 ,  4K018KA38 ,  4K018KA70 ,  5H018AA02 ,  5H018BB17 ,  5H018EE03 ,  5H018EE04 ,  5H018EE05 ,  5H018EE10 ,  5H018HH01 ,  5H018HH04 ,  5H018HH05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (2)

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