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J-GLOBAL ID:200903094371545786
フォトマスク
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002220420
Publication number (International publication number):2004061884
Application date: Jul. 29, 2002
Publication date: Feb. 26, 2004
Summary:
【課題】帯電による静電破壊やマスクパターンの崩壊を防止したフォトマスクを提供する。【解決手段】基板11上に遮光材料からなるマスクパターン12を有したフォトマスク10である。マスクパターン12が透光性の導電性ポリマーからなる導電膜13によって被覆されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
基板上に遮光材料からなるマスクパターンを有したフォトマスクにおいて、
前記マスクパターンが透光性の導電性ポリマーによって被覆されていることを特徴とするフォトマスク。
IPC (2):
FI (2):
G03F1/14 E
, H01L21/30 502P
F-Term (3):
2H095BC16
, 2H095BC19
, 2H095BC20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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露光用マスクとそのパターン評価方法及び評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-202998
Applicant:株式会社東芝
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特開昭56-001055
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特開昭56-001055
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特開平2-248950
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特開昭55-121443
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