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J-GLOBAL ID:200903094371545786

フォトマスク

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002220420
Publication number (International publication number):2004061884
Application date: Jul. 29, 2002
Publication date: Feb. 26, 2004
Summary:
【課題】帯電による静電破壊やマスクパターンの崩壊を防止したフォトマスクを提供する。【解決手段】基板11上に遮光材料からなるマスクパターン12を有したフォトマスク10である。マスクパターン12が透光性の導電性ポリマーからなる導電膜13によって被覆されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
基板上に遮光材料からなるマスクパターンを有したフォトマスクにおいて、 前記マスクパターンが透光性の導電性ポリマーによって被覆されていることを特徴とするフォトマスク。
IPC (2):
G03F1/14 ,  H01L21/027
FI (2):
G03F1/14 E ,  H01L21/30 502P
F-Term (3):
2H095BC16 ,  2H095BC19 ,  2H095BC20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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