Pat

J-GLOBAL ID：200903094517834254

非接触画像計測システム

Inventor： 張 玉武
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ
Agent (1)： 伊丹 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996294257
Publication number (International publication number)：1998141928
Application date： Nov. 06, 1996
Publication date： May. 29, 1998
Summary：

【要約】【課題】 曲率の大きい部位のエッジも確実に検出し、撮像手段と被測定対象との間の相対的な移動回数を減らして、被測定対象の輪郭形状を効率良く測定する。【解決手段】 CCDカメラで撮像された被測定対象の画像に含まれるエッジに沿って当該エッジを検出するための検出ツールを順次生成する測定む制御部34と、この測定制御部34によって生成された検出ツールによって前記エッジの位置を測定する画像計測部35と、被測定対象のエッジに関する設計値を記憶する設計値記憶部33とが備えられる。測定制御部34は、設計値記憶部33に記憶された設計値に基づいてエッジの予測曲線を生成すると共にこの生成された予測曲線上に測定目標点を設定し、この測定目標点上に検出ツールを生成する。

Claim (excerpt)：

被測定対象を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像された前記被測定対象の画像に含まれるエッジに沿って当該エッジを検出するための検出ツールを順次生成する制御手段と、この制御手段によって生成された検出ツールによって前記エッジの位置を測定する計測手段と、前記被測定対象の前記エッジに関する設計値を記憶する設計値記憶手段とを備え、前記制御手段は、前記設計値記憶手段に記憶された設計値に基づいて前記エッジの予測曲線を生成すると共にこの生成された予測曲線上に測定目標点を設定し、この測定目標点上に前記検出ツールを生成するものであることを特徴とする非接触画像計測システム。