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J-GLOBAL ID：200903094561798036

磁気共鳴力顕微鏡および磁気共鳴力顕微鏡用磁気チップ

Inventor： 吉成洋祐
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004054121
Publication number (International publication number)：2005241539
Application date： Feb. 27, 2004
Publication date： Sep. 08, 2005
Summary：

【課題】従来の加工技術で容易に形成でき、局所的に見れば、微小永久磁石が周囲に発生する静磁場分布と同等の静磁場分布を再現性良く与え、かつ、その静磁場曲面が、極めて先鋭化された磁気チップ単体による曲面とほとんど同等の高曲率磁場強度曲面となるような磁気チップを備えたMRFM、および、MRFM用磁気チップを提供する。【解決手段】強磁性体でできた磁気チップの表面に凹部を設け、強磁性体が作る均一磁場中に局所的に磁場歪みを発生させ、局所的に磁場強度曲面の曲率を大きくした。【選択図】図13

Claim (excerpt)：

磁気チップによって発生される静磁場内に試料を配置すると共に、試料に高周波磁場を照射することにより、試料に磁気共鳴を起こさせ、その結果、試料と磁気チップとの間に誘起される磁気共鳴力を検出する磁気共鳴力顕微鏡であって、 前記磁気チップとして、表面に凹部を形成した強磁性体製の磁気チップを用い、試料を前記磁気チップの凹部に近接させて配置するようにしたことを特徴とする磁気共鳴力顕微鏡。

IPC (3)：

G01N13/10 ,  G01N13/22 ,  G01N24/00

FI (3)：

G01N13/10 H ,  G01N13/22 A ,  G01N24/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許第5266896号公報。
  
• 特公平7-69280号公報。