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J-GLOBAL ID：200903094606875720

発光分光分析方法

Inventor： 福井 勲 ,  大森 敬久 ,  山路 守
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所 ,  住友金属工業株式会社
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991174306
Publication number (International publication number)：1993223739
Application date： Jun. 19, 1991
Publication date： Aug. 31, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、発光分光分析を用いて試料中の各成分元素の存在形態別の定量分析を可能にすることを目的とする。【構成】 各放電毎の輝線光強度から検量線により各成分元素の試料全体における平均濃度Aを求め、各放電毎の輝線光強度データから各成分元素毎の下記特定放電を索出し、成分元素毎にその各特定放電から、その各放電領域におけるその成分の平均濃度を上記検量線によって求め、その平均濃度から上記試料全体のその元素の平均濃度Aを引算して、その特定放電領域における化合物態としてのその元素の濃度の近似値X’を求め、上記特定放電領域における化合物態としてのその元素の真濃度X、同領域におけるその元素の分散態としての真濃度をYとして、X=X’-KiY,Y=A-KsX,なる連立方程式の解として求め、特定放電毎の上記Xの平均Xmに、(特定放電回数)/(全放電回数)を掛算して、試料全体におけるその元素の化合物態としての平均濃度を算出するようにした。

Claim (excerpt)：

各放電毎の輝線光強度から検量線により各成分元素の試料全体における平均濃度Aを求め、各放電毎の輝線光強度データから各成分元素毎の下記特定放電を索出し、成分元素毎にその各特定放電から、その各放電領域におけるその成分の平均濃度を上記検量線によって求め、その平均濃度から上記試料全体のその元素の平均濃度Aを引算して、その下記特定放電領域における化合物態としてのその元素の濃度の近似値X’を求め、上記特定放電領域における化合物態としてのその元素の真濃度X、同領域におけるその元素の分散態としての真濃度をYとして、X=X’-KiYY=A-KsXなる連立方程式の解として求め、但し、Ki,Ksは補正係数。特定放電毎の上記Xの平均値Xmに、(特定放電回数)/(全放電回数)を掛算して、試料全体におけるその元素の化合物態としての平均濃度を算出するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。記特定放電とは、或る回の放電において酸素の輝線と一つの成分元素例えばAlの輝線光強度が一定値以上で同時に検出された放電であり、その放電はAlについての特定放電で、その放電はAlの酸化物Al2 O3 を含んだ領域に飛んだものと判定される。