ダイオキシン簡易連続分析法と装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松永孝義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999123354
Publication number (International publication number)：2000314732
Application date： Apr. 30, 1999
Publication date： Nov. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】簡易的かつ迅速的に定期、排気ガス、土壌などの中のDXN類を取り出し、ダイオキシン類およびフラン類(DXN類)を測定するモニタシステムを提供すること。【解決手段】大気又は排気ガス中の各々20種類以上の異性体があるDXN類の特定の他のDXN類のガスクロマトグラフ検出ピークと離れたところ(保持時間が大きく異なる)に検出ピークを持つ1種類または2種類をガスクロマトグラフィー(低分解能GC/MSまたはSAW/GC)で数秒〜数分間で検出することによって、予め求めた検量線に基づき全毒性等量(TEQ)を算出し、ほぼ同時(リアルタイム)にDXN類のTEQを測定する。

Claim (excerpt)：

試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類をガスクロマトグラフィーを用いて検出し、連続的に計測するダイオキシン簡易連続分析法において、試料ガス中に含まれる他のダイオキシン類及びフラン類のガスクロマトグラフィ検出ピークとは離れたところに検出ピークを持つ1種および/または2種のダイオキシン類及びフラン類の量をガスクロマトグラフィにより定量することによって、予め求められている前記化合物の含有量と全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)との相関関係を示す検量線から全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)を求めることを特徴とするダイオキシン簡易連続分析法。

IPC (2)：

G01N 30/88 , G01N 30/86

FI (2)：

G01N 30/88 C , G01N 30/86 G

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

ダイオキシン類の簡易分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-082163 Applicant：太平洋セメント株式会社
廃ガス中のダイオキシン測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-034423 Applicant：日本碍子株式会社
ダイオキシン類の迅速分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-170223 Applicant：日本鋼管株式会社

Show all

Return to Previous Page