Pat
J-GLOBAL ID:200903094652524494
微粒子濃度測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
亀井 弘勝 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995062671
Publication number (International publication number):1996261904
Application date: Mar. 22, 1995
Publication date: Oct. 11, 1996
Summary:
【要約】【目的】 固気二相流中の微粒子濃度を測定すべく、採取した気体中から捕集した微粒子の重量を手作業で秤量する煩雑な操作が不要で、微粒子濃度の変化をリアルタイムで認識できる微粒子濃度測定装置を提供する。【構成】 採取ノズル1で採取した、微粒子を含む気体中から、捕集部4のサイクロン42とフィルター43で微粒子を捕集するとともに、電子天秤6によって測定した、捕集部4の全体の重量変化から、捕集した微粒子の重量を求める微粒子濃度測定装置Aである。
Claim (excerpt):
気体中に微粒子が浮遊、分散した固気二相流中から、上記微粒子を含む気体を採取する採取ノズルと、当該採取ノズルによって採取した気体中から微粒子を捕集する、サイクロンおよびフィルターのうち少なくともサイクロンを備えた捕集部と、上記捕集部の総重量を秤量する天秤とを備えることを特徴とする微粒子濃度測定装置。
IPC (3):
G01N 5/02
, G01G 19/40
, G01N 1/02
FI (3):
G01N 5/02 C
, G01G 19/40 Z
, G01N 1/02 B
Patent cited by the Patent:
Return to Previous Page