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J-GLOBAL ID:200903094718384230

マルチキャリア増幅動作時のトランジスタの歪み成分測定方法及び歪み成分測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999130139
Publication number (International publication number):2000321319
Application date: May. 11, 1999
Publication date: Nov. 24, 2000
Summary:
【要約】【課題】 マルチキャリア増幅動作時の低周波及び高調波のインピーダンスの設定に関して、低歪み、高効率、高出力となるための最適な入出力インピーダンスを容易に求めることができ、独立に設定可能にするトランジスタの歪み成分測定方法及び歪み成分測定装置を得る。【解決手段】 マルチキャリア増幅動作時のトランジスタの歪み測定において、トランジスタのマルチキャリア増幅動作で生じる相互変調である低周波、高調波の歪み成分に対する入出力インピーダンスを、基本波に対する入出力インピーダンスと共に、同時にかつ独立に変化させることにより、低歪み動作となる入出力インピーダンスを求める。
Claim (excerpt):
マルチキャリア増幅動作を行うための信号を発生する信号発生工程と、上記信号発生工程において発生された上記信号の基本波に対するトランジスタの入出力インピーダンスを調整するための基本波インピーダンス調整工程と、上記信号発生工程において発生された上記信号の高調波成分に対するトランジスタの入出力インピーダンスを調整するための高調波成分インピーダンス調整工程と、上記信号発生工程において発生された上記信号の低周波成分に対するトランジスタの入出力インピーダンスを調整するための低周波成分インピーダンス調整工程と、を備え、もって、トランジスタの基本波と高調波成分及び低周波成分に対する入出力インピーダンスを同時にかつ独立に調整することにより、低歪み動作となる入出力インピーダンスを求めることを特徴とするマルチキャリア増幅動作時のトランジスタの歪み成分測定方法。
IPC (3):
G01R 31/26 ,  G01R 23/20 ,  H03F 1/32
FI (3):
G01R 31/26 B ,  G01R 23/20 E ,  H03F 1/32

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