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J-GLOBAL ID：200903094747097097

配線基板の検査方法及び液晶装置の製造方法

Inventor：
中原 弘樹

About 中原 弘樹


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (1)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998097996
Publication number (International publication number)：1999295755
Application date： Apr. 09, 1998
Publication date： Oct. 29, 1999
Summary：
【要約】【課題】 配線パターンがファインピッチになる場合でも、各配線パターンに検査用プローブを接触させて検査ができるようにする。【解決手段】 複数の配線パターン7aにつながる端子部8が狭い間隔で隣り合うように配列された配線基板12aの検査方法である。複数の配線パターン7aの端子部8のうち互いに隣り合うものが互いに異なる長さとなるように配線パターン7aを形成し、互いに隣り合っていて長さの異なる複数の端子部8に検査用プローブを位置的にずらせて接触させて検査を行う。端子部8がファインピッチになっても、検査用プローブの間隔を大きくとることができるので、検査用プローブを用いて簡単に検査を行うことができる。
Claim (excerpt)：
複数の配線パターンが狭い間隔で隣り合うように配列された配線基板の検査方法であって、前記複数の配線パターンの端子部のうち互いに隣り合うものが互いに異なる長さとなるように前記配線パターンを形成し、互いに隣り合っていて長さの異なる複数の端子部に検査用プローブを位置的にずらせて接触させて検査を行うことを特徴とする配線基板の検査方法。
IPC (4)：
G02F 1/1345 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352
FI (4)：
G02F 1/1345 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
  • 特開昭59-220717
  • 液晶表示デバイス
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-287337   Applicant：松下電器産業株式会社
  • プローブ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-233712   Applicant：日東電工株式会社
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