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J-GLOBAL ID：200903094749227303

ゴム変形度の検出方法

Inventor： 佐々木 康史
Applicant, Patent owner： 富士ポリマテック株式会社
Agent (1)： 松田 省躬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992163320
Publication number (International publication number)：1993332707
Application date： Jun. 01, 1992
Publication date： Dec. 14, 1993
Summary：

【要約】【目的】 ゴムの変形度の簡単な検出方法【構成】 検体ゴムの内部に導電性のゴムを2層配し、変形後の両層の電気抵抗値の比により検体の変形度を検出する方法。

Claim (excerpt)：

検体のゴム内部に間隔をおいて2層の導電性のゴムを配し、この検体を屈曲させて各導電性ゴムの電気的抵抗値の比によるゴムの変形度の検出方法。