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J-GLOBAL ID:200903094828003593
テラヘルツ光素子、並びに、これを用いたテラヘルツ光発生装置及びテラヘルツ光検出装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
四宮 通
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001018544
Publication number (International publication number):2002223017
Application date: Jan. 26, 2001
Publication date: Aug. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】 テラヘルツ光の損失を低減するとともに、部品の位置合わせの手数を軽減する。【解決手段】 テラヘルツ光素子21は、基材22と、基材22の平面上に形成された光伝導膜23と、光伝導膜23上に形成された互いに分離された2つの導電膜24,25とを備える。導電膜24,25の一部同士が、基材22の平面に沿った方向に所定間隔dをあけるように配置される。基材22は、基材22から光伝導膜23と反対側へ出射するかあるいは基材22に光伝導膜23と反対側から入射するテラヘルツ光に対してレンズ作用をなすように、形成される。
Claim (excerpt):
基材と、該基材の所定の面上に形成された光伝導膜と、該光伝導膜上に形成され互いに分離された2つの導電膜とを備え、前記2つの導電膜の少なくとも一部同士が前記所定の面に沿った方向に所定間隔をあけるように配置され、テラヘルツ光を発生又は検出するテラヘルツ光素子において、前記基材の少なくとも一部が、前記基材から前記光伝導膜と反対側へ出射するかあるいは前記基材に前記光伝導膜と反対側から入射するテラヘルツ光に対してレンズ作用をなすように、形成されたことを特徴とするテラヘルツ光素子。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (7):
2G065AB09
, 2G065AB14
, 2G065BA02
, 2G065BB06
, 2G065DA05
, 2G065DA08
, 2G065DA15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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光システム及びこれによる対象物調査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-243654
Applicant:ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
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特開昭57-074720
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特開昭57-074720
Article cited by the Patent:
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