Pat

J-GLOBAL ID：200903094946064521

岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測方法

Inventor： 後藤 雪夫 ,  鈴木 哲也 ,  佐藤 昌志 ,  中井 健司 ,  加賀谷 芳之 ,  倉嶋 利雄 ,  田中 郁昭 ,  薄 知規
Applicant, Patent owner： 計測技販株式会社 ,  日本電信電話株式会社
Agent (1)： 杉山 誠二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997017497
Publication number (International publication number)：1998197298
Application date： Jan. 14, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】 岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測を実質的に連続した測定箇所において容易に行うことができる方法を提供することである。【解決手段】 変状計測を行おうとする岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に光ファイバケーブルを取付け、光ファイバケーブルの一端に歪・損失統合型光パルス試験器を接続し、光ファイバケーブルに生ずる長さ方向歪を歪・損失統合型光パルス試験器で測定することによって、岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に生ずる変状を計測することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測方法であって、変状計測を行おうとする岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に光ファイバケーブルを取付け、光ファイバケーブルの一端に歪・損失統合型光パルス試験器を接続し、光ファイバケーブルに生ずる長さ方向歪を歪・損失統合型光パルス試験器で測定することによって、岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に生ずる変状を計測することを特徴とする方法。

IPC (4)：

G01D 21/00 ,  G01B 11/16 ,  G01C 7/06 ,  G02B 6/00

FI (4)：

G01D 21/00 D ,  G01B 11/16 Z ,  G01C 7/06 ,  G02B 6/00 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平2-242119
  
• 斜面異常観測システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-149139   Applicant：住友電気工業株式会社