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J-GLOBAL ID：200903094950325640

X線診断システム並びに照射X線量管理システム

Inventor： 茶畑 圭一 ,  坂本 和彦
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002371722
Publication number (International publication number)：2004201757
Application date： Dec. 24, 2002
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：

【課題】被検者への照射X線量の累積値を正確に記録して照射X線量の管理ができる機能を備えたX線診断システム並びに照射X線量管理システムを提供する。【解決手段】X線を曝射するX線発生部と、被検者を透過してきた前記X線を検出するX線検出器とを有し、前記X線検出器の検出情報により前記被検者の透過画像を生成するX線診断装置と、前記被検者に照射した照射X線量を計算又は測定して求める手段と、この手段で求めた照射X線量の累積値を求める手段とでX線診断システムを構成する。この構成の複数のX線診断システムから前記被検者に照射された照射X線量及びこのX線量の累積値を記憶しておく照射X線量記憶手段を有するデータ管理手段を備え、同一被検者の照射X線量の累積値を前記照射X線量記憶手段に記憶して管理する。さらに、上記複数のX線診断システムは異なる病院施設に在っても上記データ管理手段で被検者へのX線照射量の管理ができるように構成した。【選択図】 図7

Claim (excerpt)：

X線を曝射するX線発生部と、被検体を透過してきた前記X線を検出するX線検出器とを有し、前記X線検出器の検出情報により前記被検体の透過画像を生成するX線診断装置と、前記被検体に照射した照射X線量を計算又は測定して求める手段と、この手段で求めた照射X線量の累積値を求める手段と、を備えたことを特徴とするX線診断システム 。

IPC (2)：

A61B6/10 ,  A61B6/00

FI (2)：

A61B6/10 303 ,  A61B6/00 390Z

F-Term (4)：

4C093AA01 ,  4C093CA33 ,  4C093CA34 ,  4C093EE30