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J-GLOBAL ID：200903094951393312

耐候性試験装置および耐候性試験方法

Inventor： 木嶋 芳雄
Applicant, Patent owner： ダイプラ・ウィンテス株式会社
Agent (1)： 有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997230807
Publication number (International publication number)：1999064209
Application date： Aug. 27, 1997
Publication date： Mar. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】 2以上の試験室内に同等の人工光を同時に照射する。照射効率を向上する。【解決手段】 紫外線照射部10の略中央にメタルハライドランプ1を設置し、その両サイドに、人工光Rを一方向に指向する反射板3-1,3-2を設ける。紫外線照射部10の両サイドに、光導入窓5-1(5-2)と,試験片S1(S2)を支持する試験片支持板6-1(6-2)と,試験片の表面に水を吹き付ける表面スプレー7-1(7-2)と,試験片の裏面に水をスプレーして結露を生じさせる裏面スプレー8-1(8-2)とを具備した試験室4-1(4-2)を配置する。【効果】 多彩な環境条件下での紫外線照射を1度に行え、試験効率が高い。

Claim (excerpt)：

紫外線を含む人工光を放射し且つ位置および光放射方向が不変の固定光源と、その固定光源を挟むか又は取り囲む態様で配置され且つ独立した環境条件を設定可能な2以上の試験室と、前記人工光を各試験室内に導く反射板とを具備したことを特徴とする耐候性試験装置。