Pat
J-GLOBAL ID:200903094951981443

インターフェース部品及びその作製方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 谷 義一 ,  阿部 和夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007151953
Publication number (International publication number):2007327959
Application date: Jun. 07, 2007
Publication date: Dec. 20, 2007
Summary:
【課題】大気圧のイオナイザの真空システムに対するインターフェースとするための平面状の部品を提供すること。【解決手段】インターフェース部品は、静電オプティクス及びスキマーを所定の圧力のガスで満たすことのできる内部チャンバと組み合わせ、シリコンのリソグラフィ、エッチング及び結合によって構成される。【選択図】図5
Claim (excerpt):
イオナイザから真空システムにイオンビームを伝達するように微細設計されたインターフェース部品であって、該インターフェース部品が、少なくとも1つのパターン化された表面を有する半導体材料から形成され、該半導体材料が、前記イオンビームを、該半導体材料中を通して前記真空システムに与えることができるチャネルを前記半導体材料中に設けるようにオリフィスを構成していることを特徴とするインターフェース部品。
IPC (2):
G01N 27/62 ,  H01J 49/10
FI (3):
G01N27/62 F ,  G01N27/62 X ,  H01J49/10
F-Term (12):
2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041EA04 ,  2G041GA17 ,  2G041GA20 ,  2G041GA21 ,  2G041GA27 ,  2G041HA01 ,  2G041HA02 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05 ,  5C038GH17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (12)
  • 米国特許第4531056号明細書
  • 米国特許第5157260号明細書
  • 米国特許第4963736号明細書
Show all
Cited by examiner (6)
Show all
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • Electrospray ionization source geometry for mass spectrometry:past,prezent, and future

Return to Previous Page