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J-GLOBAL ID：200903095024987490
変数選択装置、方法およびプログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (6)：
吉武 賢次
, 橘谷 英俊
, 佐藤 泰和
, 吉元 弘
, 川崎 康
, 岡澤 順生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006345996
Publication number (International publication number)：2008158748
Application date： Dec. 22, 2006
Publication date： Jul. 10, 2008
Summary：
【課題】標本数と説明変数候補が多い場合にも高速にモデルを構築する。【解決手段】第1値または第2値を有する複数の説明変数と、所定事象の発生の有無を前記第1値および第2値によって表す目的変数とを含むサンプルの集合を用いて、前記所定事象が発生するまたはしない確率を計算するためのモデルを生成するために用いる説明変数を選択する変数選択方法であって、 前記目的変数が第1値および第2値をもつサンプルの頻度を第1頻度および第2値として計数し、前記説明変数ごとに、前記説明変数が第1値であり前記目的変数が第1値であるサンプルの頻度を第3頻度、前記説明変数が第1値であり前記目的変数が第2値であるサンプルの頻度を第4頻度として計数し、前記第1頻度と、第2頻度と、説明変数ごとに得られた前記第3頻度および前記第4頻度とを用いて、各前記説明変数の特徴量をそれぞれ算出し、算出された各前記特徴量に基づき1つ以上の説明変数を選択する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
第1値または第2値を有する複数の説明変数と、所定事象の発生の有無を前記第1値および第2値によって表す目的変数とを含むサンプルの集合を用いて、前記所定事象が発生するまたはしない確率を計算するためのモデルを生成するために用いる説明変数を選択する変数選択装置であって、
前記目的変数が第1値をもつサンプルの頻度を第1頻度として、前記目的変数が第2値をもつサンプルの頻度を第2頻度として計数し、
前記説明変数ごとに、前記説明変数が第1値であり前記目的変数が第1値であるサンプルの頻度を第3頻度、前記説明変数が第1値であり前記目的変数が第2値であるサンプルの頻度を第4頻度として計数する頻度計数部と、
前記第1頻度と、第2頻度と、説明変数ごとに得られた前記第3頻度と、説明変数ごとに得られた前記第4頻度とを用いて、各前記説明変数の特徴量をそれぞれ算出する特徴量算出部と、
算出された各前記特徴量に基づき1つ以上の説明変数を選択する変数選択部と、
を備えた変数選択装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (2)：
Patent cited by the Patent：
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
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基本 多変量解析, 19960826, 第1版, p193-197
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基本 多変量解析, 19960826, 第1版, p193-197
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