Pat
J-GLOBAL ID：200903095044489151

清浄度測定装置および清浄度改善システム

Inventor：
及川 貴史

About 及川 貴史


Applicant, Patent owner：
キッコーマン株式会社

About キッコーマン株式会社


Agent (1)： 下田 容一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001221544
Publication number (International publication number)：2003035673
Application date： Jul. 23, 2001
Publication date： Feb. 07, 2003
Summary：
【要約】【課題】 測定対象ごと、現場ごとに評価基準値を設定し、この評価基準値に基づいて、測定された清浄度の評価をする清浄度測定装置および、複数の現場からの測定データに基づき新たな評価基準値を清浄度測定装置に設定し、清浄度の改善を促進する清浄度改善システムを提供すること。【解決手段】 測定対象ごとに評価基準値およびこの評価基準値に加えて補助評価基準値を設定する基準値設定部26と、測定値と測定対象に対応する評価基準値および補助評価基準値とを比較して評価を出力する比較・評価部27とを備える清浄度測定装置11を提供する。さらに、複数の清浄測定装置からの測定データに基づいて、中央衛生管理コンピュータ80が新たな評価基準値を測定対象ごとに設定し、この新たな評価基準値を当該清浄測定装置に設定する。
Claim (excerpt)：
測定対象から拭き取って得た試料と発光試薬との作用により試料中のアデノシンリン酸エステル類を発光させ、この発光量を測定することによって、前記測定対象の清浄度を測定するATP拭き取り検査用の清浄度測定装置において、前記清浄度に係る測定値を数値化して出力する処理演算部と、前記測定対象ごとに評価基準値を異ならしめて設定する基準値設定手段と、前記測定値と前記測定対象に対応する評価基準値とを比較して評価を出力する比較・評価手段と、を備えることを特徴とする清浄度測定装置。
IPC (3)：
G01N 21/78 ,  C12M 1/34 ,  G01N 33/02
FI (3)：
G01N 21/78 C ,  C12M 1/34 A ,  G01N 33/02
F-Term (11)：
2G054AB07 ,  2G054CA20 ,  2G054CA21 ,  2G054CA30 ,  2G054CE02 ,  2G054EA01 ,  2G054JA01 ,  2G054JA02 ,  4B029AA07 ,  4B029BB01 ,  4B029FA11
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM