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J-GLOBAL ID：200903095060998716

測点の変位自動計測装置

Inventor： トラン デュク フイ オアン ,  大野 睦雄 ,  大坪 隆二 ,  黄 守訓
Applicant, Patent owner： 株式会社間組 ,  青山機工株式会社 ,  亜細亜電子工業有限会社
Agent (1)： 酒井 一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992180810
Publication number (International publication number)：1994026820
Application date： Jul. 08, 1992
Publication date： Feb. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 水平角、垂直角の測定にばらつきが生じるのを極力抑制するとともに、構成を簡単にしてメンテナンス性の良好な測点の自動計測装置、またこの装置を多数の測点を連続的かつ自動的に観測できるようにした測点の自動計測装置を提供すること。【構成】 斜距離の計測を行うとともに、予め設定した測定の計測位置データに基づき、その測定に向けてダイオット光の反射光を受光するCCDカメラと、該CCDカメラで受光した画像データより前記反射光の変位した受光位置を識別する画像解析手段と、該手段により得られた受光位置データと前記計測位置データとから得られる角度データおよび、前記計測された斜距離のデータにより、測点の三次元座標を算出する演算手段とを備えた測点の変位自動計測装置。

Claim (excerpt)：

斜距離の計測を行うとともに、予め設定した測点の計測位置データに基づき、その測点に向けてダイオット光を照射する光波距離計と、前記測点に設置した反射手段により反射された前記ダイオット光の反射光を受光するCCDカメラと、該CCDカメラで受光した画像データより前記反射光の変位した受光位置を識別する画像解析手段と、該画像解析手段により得られた受光位置データと前記測点の計測位置データとから得られる角度データおよび、前記計測された斜距離のデータにより、測点の三次元座標を算出する演算手段とを備えた測点の変位自動計測装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 ,  G01C 1/00 ,  G01C 15/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平3-031715
  
• 特開昭61-018812
  
• 特開昭61-038516
  
• 特開平3-167404