散乱光の三次元分布を記録する方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：青山葆 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000549904
Publication number (International publication number)：2002515593
Application date： Apr. 29, 1999
Publication date： May. 28, 2002
Summary：

【要約】人の目などの透明もしくは半透明の物体(12、102)の光の後方散乱強度の三次元分布を示すデータを生み出す装置(10)を開示する。前記装置(10)は、干渉計(14、104)を含み、その参照光線及び測定光線の両光線が物体(12、102)に向けられ、物体の各参照箇所と測定箇所で反射され、これによって測定の間の物体(12、104)の軸方向の動きが両光線に等しく影響を及ぼす。前記測定光線は、データを得るための各測定箇所を横切ってラスター走査される。更に、前記光線の1つの周波数が、固定式の周波数変換器(FS)で変換され、これによって前記反射光線が組み合わされてヘテロダイン・ビート周波数によって変調され、前記物体光路差が前記干渉計光路差と一致したときに検出される。前記固定式周波数変換器(FS)が約40MHzのビート周波数を効率的に生み出すため、比較的短時間の横方向及び長手方向の走査が容易となる。

Claim (excerpt)：

物体(12,102)内の光の後方散乱強度を検出するための装置(10)において、干渉計(14,104)が、前記物体(12、102)に向けられる少なくとも1つの光線を含む複数の光線を放射し、当該複数の光線は各表面で反射されてそれぞれの反射光線を形成し、前記複数の光線の少なくとも1つの光路に、少なくとも1つの固定式周波数変換器(FS)が配置され、受信器(PD)が前記の複数の反射光線を受けてこの反射光線に対応する信号を発生し、当該信号が前記物体(12、102)内の光の後方散乱強度の分布を測定するために使用可能であること、を特徴とする改善。

IPC (4)：

G01N 21/17 630 , A61B 3/10 , A61B 10/00 , G01B 9/02

FI (4)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 E , G01B 9/02 , A61B 3/10 R

F-Term (36)：

2F064BB00 , 2F064EE01 , 2F064EE04 , 2F064FF01 , 2F064GG00 , 2F064GG12 , 2F064GG13 , 2F064GG22 , 2F064GG23 , 2F064GG38 , 2F064GG39 , 2F064GG51 , 2F064GG70 , 2F064HH01 , 2F064HH05 , 2F064JJ05 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059FF09 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG09 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059LL01 , 2G059MM01 , 2G059PP04

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