Pat

J-GLOBAL ID：200903095125113008

分光分析方法

Inventor： 多田 健太郎
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 菅野 中
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991245030
Publication number (International publication number)：1993060681
Application date： Aug. 30, 1991
Publication date： Mar. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 低コストで狭い実験室でもレーザ分光分析を可能とする。【構成】 分光分析を行いたい気体分子もしくは気体ラジカルのエネルギ状態の励起にAlGaAs半導体レーザを用いる。【効果】 半導体レーザは、色素レーザに較べてはるかに小型かつ安価であり、消費電力も小さいため、扱いが容易で小型化が可能であり、低コストの実験の実現が可能となる。

Claim (excerpt)：

気体分子もしくは気体ラジカルの分光分析において、半導体レーザからのレーザ光を気体分子もしくは気体ラジカルの吸収スペクトルを得る際の気体分子もしくは気体ラジカルの振動準位の励起光として用いることを特徴とする分光分析方法。

IPC (3)：

G01N 21/31 ,  G01J 1/54 ,  G01N 21/64