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J-GLOBAL ID:200903095157770345
電磁両立性に対応する製品設計に関連する応用のためのシステム、方法、及び装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002517540
Publication number (International publication number):2004522934
Application date: Aug. 03, 2001
Publication date: Jul. 29, 2004
Summary:
本発明の一実施例による電子デバイス及びシステムの電磁両立性に対応する設計のためのシステム、方法及び装置は電子デバイスからの放射の測定を行い、設計段階において電子システムの機能ブロック間の電磁相互作用を明らかにする。典型的な応用では、近距離場放射の特性は近距離及び/または遠距離場領域における放射強度を計算するために使用される。
Claim (excerpt):
プローブ部を有し、複数の測定信号を出力するために構成且つ配置され、前記複数の測定信号の各々が、前記プローブ部と源との間の三次元における複数の位置関係の対応する一つにおいて前記プローブ部に源から発するエネルギー場の影響を表すセンサと、
前記複数の位置関係を制御可能に形成するために構成且つ配置された位置決めデバイスと、
複数の位置関係に関する測定信号及び位置情報に基づいてデータを受信するために構成且つ配置され、場の特徴を出力する処理ユニットとを備え、
場の特徴が前記プローブ部に対するエネルギー場の影響の三次元の性質の表現を含む測定デバイス。
IPC (1):
FI (3):
G01R29/08 D
, G01R29/08 F
, G01R29/08 Z
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