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J-GLOBAL ID：200903095184095110

計測装置の検査方法、超音波検査装置の検査方法、電子走査式超音波検査装置、力覚センサシステムの検査方法および力覚センサシステム

Inventor： 瀧下 芳彦
Applicant, Patent owner： 日立建機株式会社
Agent (1)： 永井 冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991330858
Publication number (International publication number)：1993188138
Application date： Dec. 13, 1991
Publication date： Jul. 30, 1993
Summary：

【要約】【目的】 センサおよび受信部の不良箇所を迅速にかつ簡易に判定することの可能な計測装置の検査方法およびこの方法が適用される各種計測装置を提供する。【構成】 センサ(例えば超音波振動子A1〜A64)と受信部(例えば送受信回路PR1〜PR64)との接続状態を変更し、それぞれの接続状態で各々のセンサA1〜A64から出力される検出信号のの受信強度を受信部PR1〜PR64毎に出力し、各接続状態における受信強度の相違によりセンサA1〜A64および受信部PR1〜PR64のそれぞれの異常を検査可能とした。

Claim (excerpt)：

複数のセンサと、これらセンサのそれぞれに対応して設けられ、各センサからの検出信号を受信する受信部とを備えた計測装置に対して、これらセンサおよび受信部の動作状態を検査する方法において、前記センサを前記受信部に接続して第1の接続状態を実現する工程と、前記第1の接続状態が実現された状態で、前記センサのそれぞれから出力される検出信号の受信強度を前記各受信部毎に出力する工程と、前記センサを前記第1の接続状態のときと異なるように前記受信部に接続して第2の接続状態を実現する工程と、前記第2の接続状態が実現された状態で、前記センサのそれぞれから出力される検出信号の受信強度を前記各受信部毎に出力する工程とを備え、前記第1および第2の接続状態における受信強度の相違によりセンサおよび受信部のそれぞれの異常を検査可能としたことを特徴とする計測装置の検査方法。

IPC (3)：

G01S 7/52 ,  A61B 8/00 ,  G01N 29/22 506