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J-GLOBAL ID：200903095237354849

指紋照合装置

Inventor： 中島 寛
Applicant, Patent owner： 山武ハネウエル株式会社
Agent (1)： 山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993217939
Publication number (International publication number)：1995057084
Application date： Aug. 11, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】【目的】 照合の際の細線化処理を少なくして照合スピードを早める。【構成】 照合時、先ず、重要度の一番高い特徴点を第1番目の特徴点として、その特徴点があるであろう照合指紋の紋様中の座標位置を中心とし、第1ウィンドウWD1を開く。WD1内を細線化して第1候補点P1を抽出する。次に、P1の座標位置を第1特徴点があるべき座標位置とみなして、第2番目の特徴点があるであろう座標位置を中心としてWD2を開く。WD2内を細線化して第2候補点P2を抽出する。以下同様にして、P1の座標位置を第1番目の特徴点のあるべき座標位置と確定したうえ、WD3以降を開き、その領域内を細線化して、候補点を抽出する。

Claim (excerpt)：

登録指紋として採取された指紋の紋様中に適宜に原点を定め、この原点を中心として直交座標を定めたうえ、前記紋様中の複数の特徴点のデータを抽出し、この抽出した各特徴点のデータを登録データとして記憶しておき、照合指紋として採取された指紋より前記登録指紋と同様にしてその紋様中の複数の特徴点のデータを照合データとして抽出し、この抽出した照合データと前記登録データとに基づき前記照合指紋と前記登録指紋との照合を行う指紋照合装置において、前記登録指紋の紋様中の各特徴点について重要度を決定し、その決定した重要度に関する情報を含めて各特徴点のデータを登録データとして記憶する登録データ記憶手段と、この登録データ記憶手段に記憶された重要度の高い順に、その特徴点があるであろう前記照合指紋の紋様中の座標位置を中心として探索領域を定め、その探索領域を細線化して特徴点を抽出する特徴点抽出手段とを備えたことを特徴とする指紋照合装置。