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J-GLOBAL ID：200903095242206840

IC試験装置

Inventor： 飯尾 真
Applicant, Patent owner： 安藤電気株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996245672
Publication number (International publication number)：1998068755
Application date： Aug. 28, 1996
Publication date： Mar. 10, 1998
Summary：

【要約】【課題】 被測定ICに供給する電源電圧の変化のスピードを容易に細かく設定できるIC試験装置を提供する。【解決手段】 加算器8の出力を取り込んだレジスタ7の内容をプログラマブル・カウンタ5からのタイミングを可変できるクロックにより加算器8に取り込み、加算器8で変化量レジスタ3にCPU1により設定された電源電圧の変化量とを加算して被測定ICに供給する電源電圧を出力し、ディジタル/アナログ変換器10でアナログの電源電圧に変化して被測定ICに供給し、クロックの速さと変化量の比を変えることにより、電源電圧の変化のスピードを自在に変える。

Claim (excerpt)：

所定のタイミングのクロックを出力するプログラマブル・カウンタ(5) と、このプログラマブル・カウンタ(5) のクロックのタイミングでレジスタ(7) から読み出された被測定集積回路に供給する電源電圧と中央演算処理装置(1) によりプログラムされた前記電源電圧の変化量とを加算して被測定集積回路へ測定用の新たな電源電圧を出力し、かつ前記レジスタ(7) へこの新たな電源電圧を出力させる加算器(8) と、を備えることを特徴とするIC試験装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-038374
  
• 特開昭53-077179