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J-GLOBAL ID:200903095313772973

織布の検反方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 谷 義一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992251299
Publication number (International publication number):1994102202
Application date: Sep. 21, 1992
Publication date: Apr. 15, 1994
Summary:
【要約】【目的】 織布の品位についての検査を行う。【構成】 ラインセンサカメラ20により検査対象の織布を撮像し、撮像結果として得られる1画面分の画像信号について周波数分析を特徴抽出回路70で行う。品位の特徴として得られる特定周波数帯のパワ-スペクトル値を分類格付け回路80に入力してパワ-スペクトル値に対応する品位の検査結果を信号出力する。
Claim (excerpt):
検査対象の織布を撮像し、撮像結果として得られる画素毎の画像信号に基づき、前記織布の外観検査を行う織布の検反方法において、正常な織布から得られた連続の前記画像信号の大きさの変化を周波数分析した場合に、当該周波数分析の結果として得られる特定の周波数帯のパワースペクトル値を前記織布の品位を示す特徴とみなし、織布の外観検査において正常とみなす該パワースペクトル値の許容範囲を予め定めておき、検査対象の織布から得られた連続の前記画像信号の列の大きさの変化を周波数分析し、当該周波数分析から前記特定の周波帯のパワースペクトル値を取得し、当該取得したパワースペクトル値が前記許容範囲にある場合には前記検査対象の織布の品位は正常と判定し、当該取得したパワースペクトル値が前記許容範囲にない場合には前記検査対象の織布の品位は異常と判定することを特徴とする織布の検反方法。
IPC (3):
G01N 21/89 ,  D06H 3/08 ,  D06H 3/12

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