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J-GLOBAL ID：200903095512797314
電磁界解析装置及び電磁界解析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998191906
Publication number (International publication number)：2000028665
Application date： Jul. 07, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】製図用CADデータを流用することにより、入力作業を簡単化する。【解決手段】ステップS1 において作成した製図用CADデータをステップS2において記憶し、格子上の情報に変換する。ステップS3 で格子に厚みの情報及び材質の情報を追加し、ステップS4 で各格子の位置及び材質に応じて、要素に情報を与える。これにより、解析モデルの入力作業が終了する。ステップS5 で解析計算を行い、ステップS6 で計算結果を出力する。製図用CADデータを流用しているので、入力作業が著しく簡単化される。
Claim (excerpt)：
解析モデルの形状に基づく線情報からなるCADデータについて、このCADデータを所定の解析領域を区画する複数の格子に対応させた情報に変換する変換手段と、前記変換手段によって得られた各格子に材質の情報を追加するデータ追加手段と、前記各格子の前記解析領域中の位置及び材質の情報に基づいて、前記各格子の要素に情報を付与する離散化手段と、前記離散化手段によって情報が付与された各格子を用いて、前記解析モデルの時間領域における電磁界解析を行う解析手段とを具備したことを特徴とする電磁界解析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01R 29/08 Z
, G06F 15/60 612 G
5B046AA07
, 5B046BA06
, 5B046CA00
, 5B046FA00
, 5B046JA07
