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J-GLOBAL ID：200903095528128650

飛行時間型質量分析計のイオン光学系

Inventor： 松田 久
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999041374
Publication number (International publication number)：2000243345
Application date： Feb. 19, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】円筒電場を組み合わせた簡単な構造で、限られた狭い空間に長い飛行距離を収容できる新規な飛行時間型質量分析計のイオン光学系を提供する。【解決手段】回転角度60°の同一形、同一強度の円筒電場E1〜E6は、同心円筒電極である内側電極1〜6と外側電極1 ́〜6 ́の間の空間に生成される。円筒電場E1〜E6は、軸心Oを中心として60°の等間隔で回転対称に配置され、正六角形状のイオン軌道が形成される。電場E1とE6の間には、イオン源で生成された試料イオンをイオン軌道に向けて入射させるための偏向電場E0が配置されている。電場E1とE6の間には、イオン軌道を飛行してきた試料イオンを外部へ取り出すための偏向電場E7が配置されている。イオンは、軸心Oに直交する平面に対してわずかな角度傾けて1つの円筒電場へ入射される。イオン軌道は円筒電場内で徐々に下方に移動して行く。

Claim (excerpt)：

イオンが順次通過する複数の円筒電場を備えた飛行時間型質量分析計のイオン光学系であって、該複数の円筒電場は最後の円筒電場を出射したイオンが最初に入射した円筒電場に再び入射するように配置されており、且つイオン軌道が円筒電場の軸に直交する平面に対し傾きを与えられていることを特徴とする飛行時間型質量分析計のイオン光学系。