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J-GLOBAL ID：200903095552082636

チップ上の電気的な微細検出器

Inventor： 尹 大 成 ,  趙 允 ▲きょう▼ ,  姜 成 浩 ,  李 英 善 ,  林 根 培
Applicant, Patent owner： 三星電子株式会社
Agent (1)： 八田 幹雄 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002320074
Publication number (International publication number)：2003202321
Application date： Nov. 01, 2002
Publication date： Jul. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】 微細分析システムに利用可能な電気的な微細検出器を提供する。【解決手段】 少なくとも1本の微細流路6及びこの微細流路6と流体疎通が可能な少なくとも1つの貯蔵部1を含む第1の表面11を有する第1の基板と、第1の基板の第1の表面11上に接合された接する第2の表面12を有しており、第1の基板上に位置する第2の基板と、微細流路6に沿って第2の基板の第2の表面上に配され、微細流路6の底面に対向して位置する少なくとも1対の検出用の第1の電極5を含む検出部と、を有する。

Claim (excerpt)：

少なくとも1本の微細流路及びこの微細流路と流体疎通が可能な少なくとも1つの貯蔵部を含む第1の表面を有する第1の基板と、前記第1の基板の前記第1の表面上に接する第2の表面を有しており、前記第1の基板上に位置する第2の基板と、前記微細流路に沿って前記第2の基板の前記第2の表面上に配され、前記微細流路の底面に対向して位置する少なくとも1対の検出用の第1の電極を含む検出部と、を備えることを特徴とする電気的な微細検出器。

IPC (8)：

G01N 27/447 ,  C12M 1/34 ,  C12N 15/09 ,  G01N 27/02 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/53 ,  G01N 37/00 101 ,  G01N 37/00 102

FI (9)：

C12M 1/34 B ,  G01N 27/02 D ,  G01N 33/483 F ,  G01N 33/53 M ,  G01N 37/00 101 ,  G01N 37/00 102 ,  G01N 27/26 331 E ,  C12N 15/00 F ,  G01N 27/26 331 Z

F-Term (30)：

2G045AA24 ,  2G045BA11 ,  2G045DA13 ,  2G045FB05 ,  2G045JA01 ,  2G060AA06 ,  2G060AC10 ,  2G060AD06 ,  2G060AE17 ,  2G060AF06 ,  2G060AF11 ,  2G060AG10 ,  2G060AG15 ,  2G060FA01 ,  2G060FA14 ,  2G060FB02 ,  2G060HA02 ,  2G060HC07 ,  2G060HC10 ,  2G060HC18 ,  2G060HD03 ,  2G060HE03 ,  2G060KA06 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029FA15

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 集積PCR-CE装置の微小形成方法とそれにより形成された装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-375592   Applicant：アフィメトリックスインコーポレイテッド