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J-GLOBAL ID:200903095609674608
多変量データ監視装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999252170
Publication number (International publication number):2001075642
Application date: Sep. 06, 1999
Publication date: Mar. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 オペレータ一人で監視可能なプロセス量の数を増加させ、監視精度を低下させることなく、現状よりも少人数でプラントの監視を可能とする多変量データ監視装置を提供する。【解決手段】 監視対象となるプラントの複数のプロセス量を収集するプロセス量収集装置と、収集したプロセス量、アラームが発生している場合のアラームの種類、及び外部から操作が行われている場合の操作内容を記憶するプロセス量データベースと、収集したプロセス量に対して主成分分析を行い主成分スコア、特異値、及び主成分ローディングを計算する特徴量変換装置と、計算された主成分スコア、特異値、及び主成分ローディングのうち、少なくとも主成分スコアを記憶する特徴量データベースと、横軸を時間、縦軸を主成分スコアとする座標系上に主成分スコアを表示する表示装置とを備える。
Claim (excerpt):
監視対象となるプラントの複数のプロセス量を収集するプロセス量収集装置と、収集したプロセス量、アラームが発生している場合のアラームの種類、及び外部から操作が行われている場合の操作内容を記憶するプロセス量データベースと、収集した前記プロセス量に対して主成分分析を行い主成分スコア、特異値、及び主成分ローディングを計算する特徴量変換装置と、計算された前記主成分スコア、特異値、及び主成分ローディングのうち、少なくとも前記主成分スコアを記憶する特徴量データベースと、横軸を時間、縦軸を前記主成分スコアとする座標系上に前記主成分スコアを表示する表示装置と、を備えたことを特徴とする多変量データ監視装置。
F-Term (6):
5H223AA02
, 5H223DD09
, 5H223EE06
, 5H223EE30
, 5H223FF03
, 5H223FF05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
異常値検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-085623
Applicant:株式会社安川電機
-
特開平1-242941
-
液体成分分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-071509
Applicant:株式会社日立製作所
-
プラント監視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-082445
Applicant:株式会社日立製作所
-
機器/設備診断方法およびシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-048886
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立エンジニアリングサービス
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Cited by examiner (5)
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異常値検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-085623
Applicant:株式会社安川電機
-
特開平1-242941
-
液体成分分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-071509
Applicant:株式会社日立製作所
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プラント監視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-082445
Applicant:株式会社日立製作所
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機器/設備診断方法およびシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-048886
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立エンジニアリングサービス
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