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J-GLOBAL ID：200903095713305517

散乱X線補正法及びX線CT装置並びに多チャンネルX線検出器

Inventor： 吉岡 智恒 ,  右田 晋一 ,  中澤 哲夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993274171
Publication number (International publication number)：1995124150
Application date： Nov. 02, 1993
Publication date： May. 16, 1995
Summary：

【要約】【目的】 散乱X線量の検出は1種類のX線検出器によってのみ行い、X線データを適切に処理してコストアップせず高い精度で散乱X線処理が可能なX線CT装置の提供を目的とする。【構成】 X線実測値をLog変換し(F4)、このLog変換後のX線実測値の全チャンネル分の加算値を求め(F7)、この加算値からリニア領域での散乱X線補正量を求め(F8)、上記Log変換後のX線実測値を逆Log変換(F6)してリニア領域のX線実測値にし、このリニア領域のX線実測値から前記散乱X線量を差し引いて散乱X線補正を行う(F9)。

Claim (excerpt)：

X線実測値をLog変換し、このLog変換後のX線実測値からリニア領域での散乱X線補正量を求め、上記Log変換後のX線実測値を逆Log変換してリニア領域のX線実測値にし、このリニア領域のX線実測値から前記散乱X線補正量を差し引いて散乱X線補正を行う散乱X線補正法。

IPC (3)：

A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 320 ,  G01N 23/04