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J-GLOBAL ID:200903095885779421

プラークの成分を検出するための方法及びシステム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 松本 研一 ,  小倉 博 ,  伊藤 信和 ,  黒川 俊久
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004523269
Publication number (International publication number):2005533564
Application date: Jul. 23, 2003
Publication date: Nov. 10, 2005
Summary:
【課題】MECTシステムを用いてプラークの成分を検出する方法を提供する。【解決手段】多重エネルギー・コンピュータ断層(MECT)システムを用いてプラークの成分を検出する工程を含む方法を提供する。本方法は、MECTシステムを用いてファントームの投影データに関する情報を作成する工程と、この情報からプラークの成分を取得する工程と、を含む。このMECTシステムは、被検体と交差するX線を送出するように構成された少なくとも1つの放射線源と、このX線を検出するように構成された少なくとも1つの検出器と、この検出器と結合させた制御装置と、プラークの成分を検出するようにMECTシステムに指令するように構成されたコンピュータと、を含む。
Claim (excerpt):
多重エネルギー・コンピュータ断層(MECT)システムを用いてプラークの成分を検出する工程を含む方法。
IPC (1):
A61B6/03
FI (3):
A61B6/03 373 ,  A61B6/03 F ,  A61B6/03 375
F-Term (13):
4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093CA13 ,  4C093DA02 ,  4C093EA07 ,  4C093EE20 ,  4C093FC12 ,  4C093FC24 ,  4C093FD12 ,  4C093FF21 ,  4C093FF25 ,  4C093FF42 ,  4C093GA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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