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J-GLOBAL ID：200903095901951140

高周波加熱調理装置

Inventor： 岸本 卓士
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 深見 久郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000117778
Publication number (International publication number)：2001304573
Application date： Apr. 19, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：

【要約】【課題】 被加熱物を含んだ庫内の電磁界の数値解析を効率よく行なって、解析結果に基づいて常に最適な加熱を行なう。【解決手段】 電子レンジの庫内に収容された被加熱物1はターンテーブル4上に載置される。また、庫内には被加熱物1の形状を認識するための形状認識センサ9が設けられる。マイクロコンピュータ13は、加熱調理に際して、センサ9の認識結果に基づく被加熱物1の形状を示す形状情報を含む情報を用いて庫内の電磁界モデルを作成すると、作成された電磁界モデルに対して被加熱物1の物理特性の値を示す物性値情報を割当てて数値解析処理して加熱調理に適用すべき加熱シーケンスを算出する。このとき、形状情報は、被加熱物1をテーブル4により回転させながらセンサ9にて検出されることにより得られるから、少ないセンサ9で被加熱物1の形状を認識することができる。

Claim (excerpt)：

加熱室内に収容された被加熱物を高周波により加熱調理するために適用される加熱シーケンスを、前記被加熱物が収容された前記加熱室内についての電磁界モデルを用いて算出する高周波加熱調理装置であって、前記加熱室内に収容された前記被加熱物を回転させるための回転手段と、前記加熱室内に設けられて、該加熱室内に収容された前記被加熱物の形状を認識するための形状センサと、前記被加熱物を収容した前記加熱室内について、前記形状センサの認識結果に基づく前記被加熱物の形状を示す形状情報を含む情報を用いて、前記電磁界モデルを作成するモデル作成手段と前記モデル作成手段により作成された前記電磁界モデルに対して、該被加熱物の物理特性の値を示す物性値情報を割当てて数値解析処理して前記加熱シーケンス算出する解析手段とを備え、前記形状情報は、前記被加熱物を前記回転手段により回転させながら前記形状センサにて検出された該被加熱物の形状を示すことを特徴とする、高周波加熱調理装置。

IPC (7)：

F24C 7/02 335 ,  F24C 7/02 320 ,  F24C 7/02 345 ,  H05B 6/68 320 ,  H05B 6/68 ,  H05B 6/70 ,  H05B 6/74

FI (7)：

F24C 7/02 335 Z ,  F24C 7/02 320 T ,  F24C 7/02 345 J ,  H05B 6/68 320 P ,  H05B 6/68 320 V ,  H05B 6/70 C ,  H05B 6/74 F

F-Term (27)：

3K086AA01 ,  3K086BB08 ,  3K086CA20 ,  3K086CB05 ,  3K086CC01 ,  3K086CC11 ,  3K086CD02 ,  3K086CD11 ,  3K086DA02 ,  3K090AA01 ,  3K090AB02 ,  3K090BA01 ,  3K090BB01 ,  3K090CA01 ,  3K090DA15 ,  3K090EA01 ,  3L086AA01 ,  3L086BB09 ,  3L086CA07 ,  3L086CB01 ,  3L086CB20 ,  3L086CC08 ,  3L086CC12 ,  3L086CC14 ,  3L086CC16 ,  3L086DA12 ,  3L086DA29