Pat
J-GLOBAL ID：200903095965453284
光学性能測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西教 圭一郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999065618
Publication number (International publication number)：2000258296
Application date： Mar. 11, 1999
Publication date： Sep. 22, 2000
Summary：
【要約】【課題】 ビジュアル関連機器などの被測定物1の環境温度に依存する光学性能を正確に測定すること。【解決手段】 ガラス板21が取付けられた扉17を有する恒温槽2の収納室16内に、被測定物1を取付け、このガラス板21の内外両表面33,35に、第1および第2噴射手段34,36によって空気を噴射し、ガラス板21の曇りを除去する。測定手段3によってガラス板21を介して被測定物1の光学性能を測定し、補正手段によってガラス板21の光の透過率に起因した誤差の発生を防ぐ。
Claim (excerpt)：
光学性能が測定されるべき被測定物が収納される収納室の一部分を、透光性板状体によって規定し、収納室を予め定める温度に保つ恒温槽と、恒温槽の外部に設けられ、前記板状体を介して被測定物の光学性能を測定する測定手段と、前記板状体の両表面に空気を噴射して板状体の両表面が曇ることを防ぐ空気噴射手段とを含むことを特徴とする光学性能測定装置。
F-Term (2)：
Return to Previous Page
