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J-GLOBAL ID：200903096048007719

質量分析システム

Inventor： 加藤 裕志 ,  田中 一夫
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 阿部 龍吉 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998152788
Publication number (International publication number)：1999344482
Application date： Jun. 02, 1998
Publication date： Dec. 14, 1999
Summary：

【要約】【課題】 保持時間を計算して、計算した保持時間を用いて異性体アサインメントを行い、ミスアサインメントを防止する。【解決手段】 化合物を時間的に分離するクロマトグラフィ1と、特定イオンを選択して該クロマトグラフィにより時間的に分離したSIMクロマトグラムを測定する質量分析計2と、前記測定SIMクロマトグラムに基づき内部標準化合物を用いて保持時間を補正する補正曲線を求め、該補正曲線から定量化合物の各異性体の計算保持時間を求め異性体ピークをアサインし定量計算を行うデータ処理手段3とを備え、複数の同一質量数の異性体をもつ化合物を定量分析する。さらに出力手段5を備え、前記測定SIMクロマトグラムと前記各異性体の計算保持時間のクロマトグラムパターンを出力する。

Claim (excerpt)：

複数の同一質量数の異性体をもつ化合物を定量分析する質量分析システムであって、化合物を時間的に分離するクロマトグラフィと、特定イオンを選択して該クロマトグラフィにより時間的に分離したSIMクロマトグラムを測定する質量分析計と、前記測定SIMクロマトグラムに基づき内部標準化合物を用いて保持時間を補正する補正曲線を求め、該補正曲線から定量化合物の各異性体の計算保持時間を求め異性体ピークをアサインし定量計算を行うデータ処理手段とを備えたことを特徴とする質量分析システム。

IPC (4)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ZAB ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/86

FI (4)：

G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 ZAB C ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/86 F