Pat
J-GLOBAL ID:200903096086442330
分光計及び光の分析方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
浅村 皓 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992340774
Publication number (International publication number):1994207853
Application date: Dec. 21, 1992
Publication date: Jul. 26, 1994
Summary:
【要約】【目的】 一度、分散素子が放射長との関連で固定されると、放射分散素子の全体的な機械的動きを要求しない分光計を提供する。【構成】 平行な放射線をプリズム(44)に提供する入射スリット(40)或いはコリメータ(42)を使用する空間光変調分光計が提供される。プリズム(44)は入射放射線を関連する波長のスペクトルに分散する。プリズム(44)から生ずるスペクトルは、変形可能なミラー装置(DMD)のような空間光変調器(SLM)(46)に入射される。空間光変調器の表面の小さな部分、即ち空間光変調器上のセルを選択的に活性化(或いは非活性化)することによって、空間光変調器上に入射するスペクトルの一部を、放物面集光ミラー(48)のような集光装置上へ選択的に反射或いは透過することが可能である。ついで、集光装置は、空間光変調器上の選択されたセルにより反射されるスペクトルの一部を感知器(50)に集める。
Claim (excerpt):
a)光源からの放射線をスペクトルに分散するための分散素子と、b)前記分散素子からの分散スペクトルの少なくとも一部を受けるように配置される変形可能なミラー装置と、c)この変形可能なミラー装置により決定される波長におけるエネルギーの強度を検出する検出器とを備えた分光計。
Return to Previous Page