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J-GLOBAL ID:200903096108760179
測定対象物の測定用チップ,測定対象物の測定装置及び測定対象物の測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
真田 有
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001240895
Publication number (International publication number):2002122597
Application date: Aug. 08, 2001
Publication date: Apr. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 測定対象物の測定用チップ,測定対象物の測定装置及び測定対象物の測定方法において、製作を簡便化でき、測定を効率的且つ精度良く行なえ、さらに汎用性を拡大できるようにする。【解決手段】 検体10中の測定対象物を測定するための測定用チップ1であって、チップ基板2と、チップ基板2に設けられ検体10を流通させる溝状の第1流路5Aと、チップ基板2に設けられ該測定対象物に特異的に結合する第1の特異的結合物質を有する標識物質12を流通させる溝状の第2流路5Bと、第1流路5A及び第2流路5Bが集合してチップ基板2に形成される溝状の反応流路5と、反応流路5に設けられ該測定対象物と特異的に結合する第2の特異的結合物質13が固定された反応部位5Dとをそなえて構成されている。
Claim (excerpt):
検体中の測定対象物を測定するための測定用チップであって、チップ基板と、該チップ基板上に設けられ該検体を流通させる溝状の第1流路と、該チップ基板上に設けられ該測定対象物に特異的に結合する第1の特異的結合物質を有する標識物質を流通させる溝状の第2流路と、該第1流路及び該第2流路が集合して該チップ基板上に形成される溝状の反応流路と、該反応流路に設けられ該測定対象物と特異的に結合する第2の特異的結合物質が固定された反応部位とをそなえて構成されていることを特徴とする、測定対象物の測定用チップ。
IPC (2):
G01N 33/543 521
, G01N 33/566
FI (2):
G01N 33/543 521
, G01N 33/566
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