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J-GLOBAL ID:200903096149430230

光デイスク装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 田辺 恵基
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992218646
Publication number (International publication number):1994044565
Application date: Jul. 24, 1992
Publication date: Feb. 18, 1994
Summary:
【要約】【目的】本発明は、特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する光デイスク装置に関し、光源の寿命を長くし得るようにする。【構成】本発明は、シンメトリ検出結果に基づいて、パルス幅制御回路72を制御し、これにより光ビームL1の照射時間を制御してシンメトリが最適値になるように制御する。
Claim (excerpt):
光デイスクの情報記録面に所定光量の光ビームを照射することにより、上記情報記録面に順次ピツトを形成して所望の情報を記録する光デイスク装置において、上記光ビームを射出する光源と、上記光ビームを上記情報記録面に集光すると共に、上記光ビームの反射光を受光する光学系と、上記光学系で受光した上記反射光を受光して受光結果を出力する受光素子と、上記受光結果に基づいて、上記ピツトのアシンメトリを検出してアシンメトリ検出結果を出力するアシンメトリ検出手段と、上記アシンメトリ検出結果に基づいて、上記アシンメトリが最適値になるように、上記光ビームのパルス幅を制御する制御回路とを具え、上記アシンメトリ検出手段は、再生モードにおいて、上記受光素子の出力信号に基づいて上記アシンメトリ検出結果を出力する再生アシンメトリ検出手段を有し、上記制御回路は、全体の動作を制御して上記パルス幅を変化させて上記光ビームを上記光デイスクに照射して順次上記ピツトを形成した後、続いて全体の動作モードを再生モードに切り換え、上記再生アシンメトリ検出手段のアシンメトリ検出結果に基づいて、上記アシンメトリが最適値になる上記パルス幅を選定し、情報記録時、該選定したパルス幅を基準にして上記ピツトを順次形成することを特徴とする光デイスク装置。
IPC (2):
G11B 7/00 ,  G11B 7/125
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭62-271233
  • 特開昭61-239441
  • 特開昭63-071932

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