超音波探傷方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：佐々木宗治 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998316151
Publication number (International publication number)：2000146921
Application date： Nov. 06, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】くさびを使用しないで横波斜角探傷を可能とする超音波探傷方法及び装置。【解決手段】検査対象物13の表面に直接又は接触媒質を介してアレイ状に配設された複数の垂直縦波振動子10と、前記複数の各垂直縦波振動子を、その配設位置に応じた時間差を設けた送信用遅延時間制御装置6Tを介して励振するか、または前記配設位置に応じた時間差を設けて且つその配設位置内の送信電力の分布が所望の分布となるようにそれぞれ重み付けをする送信電力重み付けパルサ群7により励振することにより生ずる垂直応力により、検査対象物13内の斜め方向に超音波横波を発生させて入射する超音波送信手段(9,15,16)とを備える。

Claim (excerpt)：

被検体表面に直接又は接触媒質を介して複数の垂直縦波振動子をアレイ状に配設し、前記複数の各垂直縦波振動子をその配設位置に応じた時間差を設けて励振するか、または前記配設位置に応じた時間差を設けて且つその配設位置内の送信電力の分布が所望の分布となるようにそれぞれ重み付けして励振することにより生ずる垂直応力により、前記被検体内の斜め方向に超音波横波を発生させて入射することを特徴とする超音波探傷方法。

IPC (2)：

G01N 29/04 502 , G01N 29/24 502

FI (2)：

G01N 29/04 502 , G01N 29/24 502

F-Term (10)：

2G047BB01 , 2G047BB02 , 2G047CB01 , 2G047CB02 , 2G047DB05 , 2G047EA15 , 2G047GB02 , 2G047GF17 , 2G047GF22 , 2G047GG34

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

特開平4-265856
特開昭59-108542
超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-286206 Applicant：富士通株式会社