Pat
J-GLOBAL ID:200903096157573902
水質測定制御装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
志賀 富士弥 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994319561
Publication number (International publication number):1996178913
Application date: Dec. 22, 1994
Publication date: Jul. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 洗浄と自動ゼロ点校正とを最適に組み合わせて精度の高い計測を長期間継続可能で、かつ、装置の状態把握が容易で保守性に優れた計測装置を提供する。【構成】 第1の三方電磁弁1a(SV1)、第1のバルブ2a(V1)および第2の三方電磁弁1b(SV2)によって試料水測定系路Aを形成し、第2のバルブ2b(V2)とゼロ水調製フィルタ3によってゼロ水調製系路Bを形成するとともに、これらに並列に薬液洗浄系路Cを形成し、光学式濃度検出器4、光学式濃度変換器5および演算制御部6により、洗浄とゼロ点校正を最適に組み合わせる。
Claim (excerpt):
試料水の通流方向を切り換える第1の弁手段と、この第1の弁手段の下流段に配設された第2の弁手段を含む測定系流路と、前記測定系流路の第1の弁手段の下流段と第2の弁手段の上流段との間に配設されたゼロ水調製フィルタを含むゼロ水調製系流路と、前記測定系流路とゼロ調製系流路に並設された洗浄手段と、前記測定系流路とゼロ水調製系流路の下流段に配設された濃度検出部と、前記濃度検出部の計測信号をもとにゼロ点校正信号と無補正計測信号を出力する濃度変換器と、前記濃度変換器のゼロ点校正信号と無補正信号をもとに演算処理して、前記測定系流路とゼロ水調製系流路への試料水の通流を切換制御するとともに前記洗浄手段を駆動制御する演算制御部によって、構成したことを特徴とする水質測定制御装置。
Return to Previous Page