画像スペクトル分布測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：秋田収喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992147222
Publication number (International publication number)：1993340814
Application date： Jun. 08, 1992
Publication date： Dec. 24, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】波長の分解が高く、さらに紫外、可視、赤外の広範囲な波長を掃引することが可能な画像スペクトル分布測定装置を得る。【構成】画像を取り込み、この画像を電気信号に変換する光学装置に用いる画像スペクトル分布測定装置において、無反射コート膜を付けたガラス基板、透明電極、誘電体ミラーで液晶を挟んだ構造を有する液晶可変波長フィルタ6-1,6-2と、液晶可変波長フィルタ6-1,6-2に電圧を印加する制御機能付き電源8-1,8-2とを備えている。また、前記液晶可変波長フィルタ6-1,6-2は、重ね合う複数の液晶可変波長フィルタのフリースペクトラルレンジが異なり、その差がそのフィルタのバンド幅の2倍以上であり、大きい方のフリースペクトラルレンジの半分以下である。

Claim (excerpt)：

画像を取り込み、この画像を電気信号に変換する光学装置に用いる画像スペクトル分布測定装置において、無反射コート膜を付けたガラス基板、透明電極、誘電体ミラーで液晶を挟んだ構造を有する液晶可変波長フィルタと、該液晶可変波長フィルタに電圧を印加する制御機能付き電源とを備えたことを特徴とする画像スペクトル分布測定装置。

IPC (2)：

G01J 3/26 , G01J 3/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

特開昭59-128863
特開平2-165022
特表昭60-501130

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