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J-GLOBAL ID：200903096276283866

試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置

Inventor：
藤 寛

About 藤 寛


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社


Agent (1)： 原 謙三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993218791
Publication number (International publication number)：1995073468
Application date： Sep. 02, 1993
Publication date： Mar. 17, 1995
Summary：
【要約】【構成】 光ビームaにより情報が記録される光磁気ディスク24から繰り返しマークパターンyに対応する再生信号wの部分のレベルと、孤立マークパターンxに対応する再生信号wの部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録条件を設定する試し書き記録制御方法および、これを採用した試し書き記録制御装置。【効果】 繰り返しマークパターンyに対応する再生信号wの部分のレベルと、孤立マークパターンxに対応する再生信号wの部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、正確に熱干渉の違いを知ることができる。このため、異なるマークパターンに対応した記録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。これにより、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定することが可能となる。
Claim (excerpt)：
光ビームにより情報が記録される光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録条件を設定することを特徴とする試し書き記録制御方法。
IPC (3)：
G11B 7/00 ,  G11B 11/10 551 ,  G11B 11/10 586
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 特開平4-010220
  • 特開平3-034127
  • 特開平3-102679
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