Pat
J-GLOBAL ID：200903096347325344

被覆された3次元オブジェクトのコンピュータ画像を生成するためのプロセス

Inventor：
クリスチャン ヴォエ

About クリスチャン ヴォエ

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ペーター ミンコ

About ペーター ミンコ

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マーク チラ

About マーク チラ


Applicant, Patent owner：
イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー

About イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー


Agent (1)： 谷 義一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002123159
Publication number (International publication number)：2003058581
Application date： Apr. 24, 2002
Publication date： Feb. 28, 2003
Summary：
【要約】【課題】 光学的表面特性の偏差を表わす。【解決手段】 各パネルについて異なる被覆パラメータのセットの作用の下で少なくとも2つのテストパネル上の関連する被覆層を与え、各パネル上の関連する被覆層の塗布において選択された被覆パラメータのセットの関数として少なくとも1つの光学的表面特性の複数の測定値を得て、被覆パラメータの関連するセットの指定とともにデータファイルに光学データを格納し、コンピュータにより3次元オブジェクトの目に見える面に切り子面を作り、各々が表面的特徴を十分正確に描写するために十分小さな、十分な数の平坦な多角形領域にして、コンピュータにより個々の多角形領域において被覆パラメータの関連するセットと関係する光学データとを指定し、多角形領域を3次元オブジェクトのコンピュータ画像に組み立てる。
Claim (excerpt)：
被覆された3次元オブジェクトのコンピュータ画像を生成するプロセスであって、適切な順序により、(a)各パネルについて異なる被覆パラメータのセットの作用の下で少なくとも2つのテストパネル上の関連する被覆層を与えるステップと、(b)各パネル上の前記関連する被覆層の塗布において選択された前記被覆パラメータのセットの関数として、少なくとも1つの光学的表面特性の複数の測定値を得るステップと、(c)被覆パラメータの関連するセットの指定とともにデータファイルに光学データを格納するステップと、(d)コンピュータにより3次元オブジェクトの目に見える面に切り子面を作り、各々が表面的特徴を十分正確に描写するために十分小さな、十分な数の平坦な多角形領域にするステップと、(e)コンピュータにより個々の多角形領域において、被覆パラメータの関連するセットと関係する光学データとを指定するステップと、(f)多角形領域を3次元オブジェクトのコンピュータ画像に組み立てるステップとを備えたことを特徴とするプロセス。
IPC (5)：
G06F 17/50 610 ,  G06F 17/50 680 ,  G01N 21/84 ,  G06T 15/00 100 ,  G06T 15/50 200
FI (5)：
G06F 17/50 610 C ,  G06F 17/50 680 Z ,  G01N 21/84 Z ,  G06T 15/00 100 A ,  G06T 15/50 200
F-Term (14)：
2G051AA89 ,  2G051AB12 ,  2G051AC04 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051EA17 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21 ,  5B046AA04 ,  5B046FA20 ,  5B046GA04 ,  5B080AA14 ,  5B080FA02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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