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J-GLOBAL ID：200903096374518421

センシング装置

Inventor： 尾内 敏彦
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 加藤 一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005248561
Publication number (International publication number)：2007064700
Application date： Aug. 30, 2005
Publication date： Mar. 15, 2007
Summary：

【課題】それぞれ複数の電磁波伝送部分に電磁波を伝播させて獲得される複数の検出信号を適当に処理することで、比較的高速、高感度に検体の物性などの情報を得ることができるセンシング装置を提供することである。【解決手段】30GHz〜30THzの周波数領域内の周波数領域を含む電磁波を用いて検体5、6の情報を得るためのセンシング装置である。それぞれ異なる状態で電磁波を伝播するための複数の伝送部分4a、4bを有する電磁波伝送部と、伝送部分4a、4bから電磁波を受けて検出するための検出部3a、3cを備える。少なくとも一つの伝送部分4a、4bは、そこを伝播する電磁波が及ぶ部分に検体5、6を配することができるように構成されている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

30GHz〜30THzの周波数領域内の周波数領域を含む電磁波を用いて検体の情報を得るためのセンシング装置であって、それぞれ異なる状態で電磁波を伝播するための複数の伝送部分を有する電磁波伝送部と、前記伝送部分から電磁波を受けて検出するための検出部を備え、少なくとも一つの伝送部分は、そこを伝播する電磁波が及ぶ部分に検体を配することができるように構成されていることを特徴とするセンシング装置。

IPC (1)：

G01N 21/35

FI (1)：

G01N21/35 Z

F-Term (10)：

2G059AA02 ,  2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK03 ,  2G059KK10 ,  2G059MM01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 光システム及びこれによる対象物調査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-243654   Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド

Cited by examiner (4)

• テラヘルツ光測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-033643   Applicant：株式会社栃木ニコン, 株式会社ニコン
• 特公平4-027494
  
• 高周波電気信号制御装置およびセンシングシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-181664   Applicant：キヤノン株式会社
• 高周波電気信号制御装置及びセンシングシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-181663   Applicant：キヤノン株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “T-ray Imaging: New Possibilities in the Far Infrared”