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J-GLOBAL ID：200903096401619812

微弱光計測装置

Inventor： 小石 結 ,  渡辺 元之
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992170908
Publication number (International publication number)：1993187914
Application date： Jun. 29, 1992
Publication date： Jul. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】 微弱な光現象も精密に測定できる、小型で軽量なストリークカメラシステムその他の光子計数型の微弱光計測装置。【構成】 入射した被測定光10は、ストリーク管11の蛍光面11aに投射されて、ストリーク像に変換される。蛍光面11aと固体撮像素子15とはファイバプレート14を挟んで結合されおり、変換されたストリーク像はファイバプレート14を通して固体撮像素子15上に投影される。固体撮像素子15は、投影されたストリーク像をビデオ信号に変換し、これを信号処理装置16に与える。そして、信号処理装置16では、このビデオ信号からビデオノイズを除去して、被測定光による信号のみを積算して光時間波形を形成する。この場合、ストリーク管11は、単一光電子の入射に対して飽和しない状態で動作するMCP11bを備えるので、単一フォトンの入射に対応する輝点の広がりは極めて狭いものとなる。

Claim (excerpt)：

被測定光の入射に応じて電子を発生する光電変換手段と、該光電変換手段からの電子を増倍するとともに、1電子の入射で飽和しない電子増倍手段と、前記電子増倍手段で増倍された電子を光像に変換する発光手段とを有する光子計数手段と、前記光子計数手段からの光像を電気出力に変換する撮像手段と、前記撮像手段で変換された前記光子計数手段からの電気出力からノイズ部分を除去した信号部分を抽出する信号処理手段と、を備える微弱光計測装置。

IPC (3)：

G01J 1/02 ,  G01J 1/42 ,  H01J 31/50

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-163631
  
• 特開平2-013814
  
• 特開昭59-058745