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J-GLOBAL ID：200903096402730555

非接触温度センサの校正方法

Inventor：
安藤 浩

About 安藤 浩

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樽見 浩幸

About 樽見 浩幸

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西井 克昌

About 西井 克昌

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河合 孝昌

About 河合 孝昌


Applicant, Patent owner：
株式会社デンソー

About 株式会社デンソー


Agent (1)： 伊藤 洋二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000169156
Publication number (International publication number)：2001349786
Application date： Jun. 06, 2000
Publication date： Dec. 21, 2001
Summary：
【要約】【課題】 温度検出素子の劣化や集光レンズの汚れ等により非接触温度センサの出力値が変化しても、被検温体の温度を正確に測定可能にする。【解決手段】 所定領域30の温度を非接触で検出する非接触温度センサ20と、所定領域30内に配置され、かつ温度を所定温度に設定可能な基準被検温体40とを備え、基準被検温体40の温度を検出して得られた非接触温度センサ20の初期の出力値Bと、基準被検温体40の温度を検出して得られた非接触温度センサ20の現在の出力値Aとを比較して、現在の出力値Aの補正係数Kを決定する。これによると、初期の出力値に対する現在の出力値の変化分を補正して、被検温体の温度を正確に測定することができる。
Claim (excerpt)：
所定領域(30)の温度を非接触で検出する非接触温度センサ(20)と、前記所定領域(30)内に配置され、かつ温度を所定温度に設定可能な基準被検温体(40)とを備え、前記基準被検温体(40)の温度を検出して得られた前記非接触温度センサ(20)の初期の出力値(B)と、前記基準被検温体(40)の温度を検出して得られた前記非接触温度センサ(20)の現在の出力値(A)とを比較して、前記現在の出力値(A)の補正係数(K)を決定することを特徴とする非接触温度センサの校正方法。
IPC (4)：
G01J 5/10 ,  B60H 1/00 101 ,  B60H 1/32 623 ,  G01J 5/48
FI (5)：
G01J 5/10 B ,  B60H 1/00 101 Q ,  B60H 1/32 623 T ,  G01J 5/48 C ,  G01J 5/48 E
F-Term (7)：
2G066AA06 ,  2G066AB08 ,  2G066AC13 ,  2G066BA08 ,  2G066BC15 ,  2G066CA04 ,  2G066CB01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 赤外線撮像装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-271722   Applicant：株式会社ニコン
  • 赤外線撮像装置の感度補正方式
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-268073   Applicant：富士通株式会社
  • 車両用乗員検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-104656   Applicant：株式会社デンソー
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