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J-GLOBAL ID：200903096519655082

多点同時計測システム

Inventor： 名古屋 貢 ,  阿部 允
Applicant, Patent owner： 株式会社光研 ,  株式会社ビーエムシー
Agent (1)： 鈴木 均
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995353734
Publication number (International publication number)：1997178547
Application date： Dec. 27, 1995
Publication date： Jul. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】 本発明は各振動測定伝送器と、センタ装置とを1本の同軸ケーブルで接続して、同軸ケーブルを設置する際の手間を省略することができるとともに、同軸ケーブルの総量を短くして、設置コストを下げながら、振動測定伝送器の設置数を多くしても、各振動測定伝送器の振動センサで得られた振動信号を正確にセンタ装置に伝送し得るようにする。【解決手段】 センタ装置5からコマンドを出力して、各振動測定伝送器3a〜3nの動作設定を行なって、各振動測定伝送器3a〜3nに振動測定を行なわせ、この振動測定動作で得られた振動データを蓄積させながら、センタ装置5から送信指示信号を出力させたとき、各振動測定伝送器3a〜3nから互いに異なるキャリア周波数のFM変調信号を出力させて、センタ装置5でこれらを取り込んで、記録解析する。

Claim (excerpt)：

各観測点毎に設けられる観測点機器と、監視室側に設けられるセンタ装置と、このセンタ装置と前記各観測点機器とを接続する1本の伝送ケーブルとを備えた多点同時計測システムにおいて、前記センタ装置側から送信指示信号が出力されたとき、前記各観測点機器側で、それまで得られた測定データを予め設定されている変調方式で変調して、伝送ケーブル上で周波数多重化させ、前記センタ装置に伝送する、ことを特徴とする多点同時計測システム。

IPC (2)：

G01H 17/00 ,  G08C 15/04

FI (2)：

G01H 17/00 Z ,  G08C 15/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 多数点同時振動計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-227916   Applicant：三菱重工業株式会社, 山里産業株式会社, 株式会社東京測器研究所
• 特開平3-182198