ひずみ検知付きPC材、そのひずみ検知システム及び方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：河西祐一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998214031
Publication number (International publication number)：2000046527
Application date： Jul. 29, 1998
Publication date： Feb. 18, 2000
Summary：

【要約】【課題】PC材のひずみを容易に検知すること。【解決手段】PC材2と共に一体に配置された光ファイバ3を備え、光ファイバ3に光パルスを入射し、反射光を測定し、光ファイバ3のひずみ分布からPC材2のひずみを求めるためのひずみ検知付きPC材、ひずみ検知システム、又ひずみ検知方法。

Claim (excerpt)：

PC材のひずみを検知するひずみ検知付きPC材において、PC材の動きに連動するように配置された光ファイバを備え、光ファイバのひずみの測定からPC材のひずみを検知することを特徴とする、ひずみ検知付きPC材。

F-Term (7)：

2F065AA65 , 2F065CC00 , 2F065DD00 , 2F065FF00 , 2F065FF31 , 2F065LL02 , 2F065QQ44

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平4-368548
アンカー施工部の地中状況監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-196059 Applicant：住友電気工業株式会社
光ファイバ圧力センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-259740 Applicant：株式会社日立製作所

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