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J-GLOBAL ID:200903096624008009

ひずみ検知付きPC材、そのひずみ検知システム及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 河西 祐一 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998214031
Publication number (International publication number):2000046527
Application date: Jul. 29, 1998
Publication date: Feb. 18, 2000
Summary:
【要約】【課題】PC材のひずみを容易に検知すること。【解決手段】PC材2と共に一体に配置された光ファイバ3を備え、光ファイバ3に光パルスを入射し、反射光を測定し、光ファイバ3のひずみ分布からPC材2のひずみを求めるためのひずみ検知付きPC材、ひずみ検知システム、又ひずみ検知方法。
Claim (excerpt):
PC材のひずみを検知するひずみ検知付きPC材において、PC材の動きに連動するように配置された光ファイバを備え、光ファイバのひずみの測定からPC材のひずみを検知することを特徴とする、ひずみ検知付きPC材。
F-Term (7):
2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065DD00 ,  2F065FF00 ,  2F065FF31 ,  2F065LL02 ,  2F065QQ44
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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