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J-GLOBAL ID：200903096671490412
円形状被対象物の検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小池 晃 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993090232
Publication number (International publication number)：1994302150
Application date： Apr. 16, 1993
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：
【要約】【目的】 円形状被対象物の円周上の任意の検査対象範囲の検査を高速且つ安定して実現する。【構成】 円形状の被対象物1を画像処理して、該被対象物1の形状及び/又は位置を検出する円形状被対象物の検査方法において、前処理として被対象物1の画像全体の情報を極座標(r,θ)から直交座標(x,y)へ変換する。
Claim (excerpt)：
円形状の被対象物を画像処理して、該被対象物の形状及び/又は位置を検出する円形状被対象物の検査方法において、前処理として被対象物の画像全体の情報を極座標から直交座標へ変換することを特徴とする円形状被対象物の検査方法。
IPC (2)：
G11B 23/113
, G11B 23/087 104
