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J-GLOBAL ID：200903096723342964

エッジ領域検出方法

Inventor：
古久保 良隆

About 古久保 良隆


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (1)： 稲本 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995050250
Publication number (International publication number)：1996016793
Application date： Mar. 10, 1995
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：
【要約】【目的】 画素信号DD0をエッジ領域とそれ以外のテクスチャ領域に識別する際、確実かつ効率良く識別する。【構成】 画素信号DD0のエッジ領域を抽出する際に、注目画素周辺の所定のマスク領域内の画素が持つ統計的特徴量としての信号DD8と、注目画素が持つ特徴量としてのエッジ強度信号DD5とに応じて、エッジ領域とそれ以外を識別するしきい値DD9を変化させるようにする。一定のしきい値を用いてエッジ領域を識別する従来の方法に較べ、確実かつ効率的にエッジ領域を識別し得る。
Claim (excerpt)：
入力画像信号のエッジ領域を検出するエッジ領域検出方法において、検出対象となる注目画素周辺の所定の領域をマスク領域とし、前記マスク領域内の画素が持つ統計的特徴量と、前記注目画素が持つ特徴量とに応じて、前記エッジ領域と前記エッジ領域以外の部分を検出するしきい値を適応的に変化させるようにしたことを特徴とするエッジ領域検出方法。
IPC (4)：
G06T 9/20 ,  H04N 1/41 ,  H04N 5/92 ,  H04N 7/30
FI (3)：
G06F 15/70 335 Z ,  H04N 5/92 H ,  H04N 7/133 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
  • 特開平3-022181
  • 特開平4-326671
  • 特開昭61-126437
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